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Physique
Une nouvelle technologie de haute précision pour mesurer les propriétés optiques des matériaux émerge à l'Institut Weizmann des Sciences

http://www.bulletins-electroniques.com/actualites/60791.htm

La détermination des propriétés optiques d'un échantillon est d'un grand intérêt dans beaucoup de domaines de recherche, comme l'explique le Professeur Dan Yakir du département des Sciences Environnementales et Energétiques. Par exemple, pour mesurer des températures par satellite, pour effectuer des mesures médicales, pour faire de l'imagerie thermique pour des systèmes de sécurité, des applications industrielles ou encore pour réaliser des capteurs infrarouges.

La mesure de l'intensité de radiation venant d'un échantillon ne rapporte cependant pas une propriété optique sûre car la radiation émise par l'échantillon se mélange avec la radiation reflétée. La découverte du Professeur Yakir propose une solution à ces problèmes avec un kit pour mesurer les propriétés optiques d'échantillons, y compris des objets "naturels". En utilisant une sphère intégrale, une variation de fond variable et des mesures simultanées de l'échantillon et d'une référence, ce kit permet des mesures très précises grâce à la minimisation des interactions extérieures.

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Yeda Research and Development Company Ltd.

Julien Kieffer

BE Israël numéro 66 (13/10/2009) - Ambassade de France en Israël / ADIT - http://www.bulletins-electroniques.com/actualites/60791.htm